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鸿怡电子芯片测试座寿命分析：结构与材料的协同影响

芯片测试座的寿命核心取决于机械磨损速率与材料抗劣化能力，鸿怡电子通过结构优化与材料选型的精准匹配，实现了不同应用场景下的寿命分级设计。以下从结构类型与材料特性两个维度展开分析：